工業(yè)以太網是指在工業(yè)環(huán)境的自動化控制及過程控制中應用以太網的相關組件及技術。工業(yè)以太網會采用TCP/IP協(xié)議，和IEEE 802.3標準兼容，但在應用層會加入各自協(xié)議。

       以太網在工業(yè)程序的應用需要有實時的特性，許多以太網的相關技術可以使以太網適用在工業(yè)應用中。由于利用標準的以太網，因此提升了工廠內由不同供應商設備的互連性。為了保證競爭力并發(fā)展壯大，很多企業(yè)越來越傾向于通過先進的工業(yè)自動化來MAX限度地提高工作效率、經濟規(guī)模與質量。

       日益互聯(lián)的世界必將連通工廠車間。以太網的市場很大，相關組件的成本也較低、容易獲取，因此工業(yè)以太網的成本也可以下降，而性能也可以隨著以太網技術的進步而提升。人機界面 (HMI)、可編程邏輯控制器 (PLC)、電機控制和傳感器需要采用可擴展的高效方式來進行連接。

       由于工業(yè)以太網應用在工業(yè)環(huán)境下，其對振動、溫度、濕度和電磁干擾的適應要求都可能比一般的IT產業(yè)設備工作條件更嚴苛。因此，對于同軸線纜的傳輸性能提出了更高的要求。使用鼎陽科技的四端口矢量網絡分析儀搭配工業(yè)以太網測試夾具，可以完成以太網線束的測試。

一、測試項目

1、時域測試：差分特征阻抗Tdd11，Tdd22

2、頻域測試：

（1）回波損耗：Sdd11，Sdd22

（2）插入損耗：Sdd21

（3）近端串擾(Near-End Crosstalk 簡稱NEXT)：Sdd21，Sdd12

二、工業(yè)以太網線束的測試方案

       本節(jié)將介紹時域和頻域測量的TDR設置程序以及測試方案。

（一）校準測試

          校準的目的是在測量前校準射頻效應，例如射頻線纜和測試夾具帶來的跡線的延遲、損耗和不匹配。為了消除夾具帶來的影響，VNA提供了完整的校準方法（機械校準和去嵌入或TRL校準）。

         使用校準件可以對VNA測試端口的射頻線纜末端進行4端口全面校準。通過延時補償(Deskew)或延時損耗補償（Deskew&Loss），可消除夾具帶來的影響。

         校準和夾具補償可以通過TDR軟件中的向導來完成，也可以手動測試，由于此處需要使用到矢量網絡分析儀的四個端口，為了簡化操作，推薦使用電子校準。

（1）選擇DUT的拓撲結構，此時我們測試的是網線中的差分對，所以選擇差分兩端口測試，如圖1所示。

圖1 選擇TDR模式中的DUT Topology

（2）點擊ECal，等到電子校準件充分預熱后，對矢量網絡分析儀的端口進行校準，如圖2所示。

圖2 使用電子校準件進行校準。

（3）VNA固件的自動端口延伸功能可以消除測試夾具的影響。校準平面通過自動端口延伸移至測試夾具的末端，如圖3所示。

圖3 配置矢量網絡分析儀進行端口延伸

       在進行端口延伸的時候，需要將夾具和矢量網絡分析儀以下圖的方式連接，并且DUT不連接在測試夾具上，如圖4所示，在端口延伸時，只進行OPEN的測量。

圖4 進行自動端口延伸和Deskew的連接方式示意

       這一步也可以通過TDR中的Deskew來完成，矢量網絡分析儀可以自動補償線纜和夾具的長度和損耗。Deskew和端口延伸功能的本質是一樣的，如圖5所示。

圖5 使用矢量網絡分析儀進行Deskew

（4）連接DUT到測試夾具，測量DUT的長度，并用于設置時域的時間跨度，如圖6和圖7所示。

圖6 測試DUT長度

圖7 矢量網絡分析儀自動測量DUT長度

（二）測量步驟

          根據每個測試項中的連接指南將以太網測試夾具連接到測試線纜，沒有使用到的端口需要連接到50歐姆端接，從而減少信號反射對測試帶來的影響。

（1）差分特征阻抗

        阻抗不匹配帶來的反射會在以太網的Rx（接收機）處產生噪聲。因此，阻抗曲線可以顯示多重反射引起的噪聲，該項測試可以確保以太網線纜的信號導體有合適的阻抗（50歐姆）

1、使用射頻線纜將矢量網絡分析儀分別連接到測試夾具。測量鏈路段1時，將矢量網絡分析儀的Port1，Port2連接到測試夾具1的DA+和DA-，將Port3和Port4連接到測試夾具2的DA+和DA-。沒有使用的端口使用50歐姆端接連接。

2、設置Trace1為Tdd11，Trace2為Tdd22

3、Tdd11和Tdd22是同一個差分對中不同方向的差分阻抗曲線。因此，這兩個測量得到的跡線在夾具之外的部分應該是對稱的，其余測量對也是如此。

4、用射頻電纜將 VNA 端口（端口 1 至 4）連接到測試夾具端口，以測量鏈路段2的差分特性阻抗。將矢量網絡分析儀的Port1，Port2連接到測試夾具1的DB+和DC-，將Port3和Port4連接到測試夾具2的DB+和DC-。沒有使用的端口使用50歐姆端接連接。

5、重復操作2、3

     在此項測試中，標準規(guī)定的差分特性阻抗為100歐姆。測試結果越接近100歐姆線纜的信號傳輸質量越好。

     使用長度為230mm的以太網線纜測試結果如圖8所示。其中使用的DUT速度因子為0.8。

圖8 短網線T參數測量結果

      由于Tdd11和Tdd22應該是對稱的，觀察Tdd22我們可以看出在Marker2處出現(xiàn)了和跡線和校準基準線左側相似的波形，可以判斷出此時測量到的為夾具內的差分線。

（2）差分插入損耗

1、使用射頻線纜將矢量網絡分析儀分別連接到測試夾具。測量鏈路段1時，將矢量網絡分析儀的Port1，Port2連接到測試夾具1的DA+和DA-，將Port3和Port4連接到測試夾具2的DA+和DA-。沒有使用的端口使用50歐姆端接連接。

2、設置Trace3 為Sdd21

3、點擊Trigger>Single

4、將測試結果和參考結果比較，測量到的值應該比限制值更小。

     參考結果：

     極限如圖9所示，鼎陽科技支持極限測試，并會在極限點之間自動插值。

圖9 使用鼎陽VNA進行極限測試

5、用射頻電纜將 VNA 端口（端口 1 至 4）連接到測試夾具端口，以測量鏈路段2的插入損耗。將矢量網絡分析儀的Port1，Port2連接到測試夾具1的DB+和DC-，將Port3和Port4連接到測試夾具2的DB+和DC-。沒有使用的端口使用50歐姆端接連接。

6、重復操作2、3、4

     值得注意的是，在此處參考結果的插入損耗的DUT標準規(guī)定的是100米的長網線，如圖10所示。

圖10 IEEE標準中對于DUT長度的解釋

注：在拓撲結構如圖11時，Sdd21計算方法為Sdd21=（S31-S32-S41+S42）/2

圖11 端口拓撲結構

（3）差分回波損耗

1、使用射頻線纜將矢量網絡分析儀分別連接到測試夾具。測量鏈路段1時，將矢量網絡分析儀的Port1，Port2連接到測試夾具1的DA+和DA-，將Port3和Port4連接到測試夾具2的DA+和DA-。沒有使用的端口使用50歐姆端接連接。

2、設置Trace4 為Sdd11

3、點擊Trigger>Single

4、將測試結果和參考結果比較，測量到的值應該比限制值更小。

     參考結果：在1MHz到20MHz的范圍內小于-15dB；

     在20MHz到100MHz范圍內小于-(15-10log10(f/20 MHz)) dB；

5、 用射頻電纜將 VNA 端口（端口 1 至 4）連接到測試夾具端口，以測量鏈路段2的插入損耗。將矢量網絡分析儀的Port1，Port2連接到測試夾具1的DB+和DC-，將Port3和Port4連接到測試夾具2的DB+和DC-。沒有使用的端口使用50歐姆端接連接。

6、重復操作2、3、4

圖12 差分回波損耗測量結果

       測得的結果如圖12所示。其中為了更好的判斷結果是否符合標準，我們每隔20MHz設置了極限點，用于參考結果函數，這樣可以直觀的看出在哪些頻率范圍內，DUT需要進行進一步的優(yōu)化。

（4）差分近端串擾

1、使用射頻線纜將矢量網絡分析儀分別連接到測試夾具。將矢量網絡分析儀的Port1，Port2連接到測試夾具1的DB+和DC-，將Port3和Port4連接到測試夾具1的DA+和DA-。沒有使用的端口使用50歐姆端接連接。

2、設置Trace6為Sdd21

3、點擊Trigger>Single

4、將測試結果和參考結果比較，測量到的值應該比限制值更小。

     參考結果：在1MHz~100MHz的范圍內小于27.1-16.8log10（f/100）(dB)

     極限測試的方法如圖 4?9所示，鼎陽科技支持極限測試，并會在極限點之間自動插值。

5、更改測量結果為Sdd12，再將測量結果和參考結果比較。

6、更改矢量網絡分析儀和夾具的連接方法，來測量遠端串擾。將矢量網絡分析儀的Port1，Port2連接到測試夾具2的DB+和DC-，將Port3和Port4連接到測試夾具2的DA+和DA-。沒有使用的端口使用50歐姆端接連接。

7、重復步驟2，3，4，5。

三、測試結果物理意義

      四端口混合模式S參數是根據網絡對共模和差分激勵信號的響應來表征四端口網絡。其中常用的是Sxyab的表示法，S代表了S參數，x為響應模式（差分/共模），y為激勵模式（差分/共模），a為響應端口，b為激勵端口。

       在絕大多數高速差分互聯(lián)網絡中，我們通常關注四個參數，分別是差分回波損耗（Sdd11）、輸入差分插入損耗（Sdd21）、輸出差分回波損耗（Sdd22）、輸出差分插入損耗（Sdd12），他們表征了被測設備的差分激勵和差分響應特性。差分信號處理的好處很多，可以降低電磁干擾的敏感性，減少平衡差分電路的電磁輻射，可以將差分失真轉化為共模信號，抑制共模電源和接地噪聲。

       在其他的一致性測試中（例如100BASE-T1），我們會使用到共模到差分轉換Sdcab和差分到共模轉換Scdab，他們表征了被測器件中發(fā)生的模式轉換，在嘗試優(yōu)化高速信號傳輸電路和某些EMI要求較高的設計中，模式轉換非常有用。

四、配套設備

（1）矢量網絡分析儀：4端口測試儀器，頻率范圍至少為4.5GHz

（2）TDR選件：增強時域分析選件

（3）校準件：四端口電子校準件

（4）測試夾具：以太網一致性測試夾具

（5）射頻線纜