一、概述

       阻抗分析儀通過(guò)測(cè)量電容值和損耗角正切值（tanδ）計(jì)算介電常數(shù)，適用于低頻段（如20Hz-30MHz）的測(cè)量。網(wǎng)絡(luò)分析儀則基于散射參數(shù)（S參數(shù)）測(cè)量反射系數(shù)和傳輸系數(shù)，通過(guò)同軸探頭法或傳輸線(xiàn)法間接推算介電常數(shù)，適用于高頻段（如200MHz-50GHz）的測(cè)量。

（1）LCR測(cè)試儀IM3536 是一款高性能、高精度的通用LCR測(cè)試儀，測(cè)量頻率覆蓋 DC至8MHz，支持從低頻到高頻的全面測(cè)試，滿(mǎn)足電解電容、陶瓷電容、電感器等元件在不同工作頻率下的特性評(píng)估需求。其內(nèi)置電導(dǎo)率（σ）和介電常數(shù)（ε）運(yùn)算功能，通過(guò)觸摸屏輸入導(dǎo)體長(zhǎng)度、橫截面積等參數(shù)即可直接計(jì)算。

（2）SNA6000A 系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，測(cè)量頻率范圍涵蓋 100 kHz-50 GHz，支持 4 端口 S 參數(shù)測(cè)量，差分（平衡）測(cè)量，時(shí)域測(cè)量，濾波器插入損耗、帶寬、Q 值等一鍵測(cè)量，支持端口阻抗轉(zhuǎn)換、端口擴(kuò)展功能，支持極限測(cè)試、紋波測(cè)試功能，支持夾具仿真和去嵌入功能，支持線(xiàn)性頻率掃描、對(duì)數(shù)頻率掃描、分段頻率掃描、線(xiàn)性功率掃描方式，支持 SOLT、SOLR、TRL、Response、Enhanced Response 等完備的校準(zhǔn)方法，可滿(mǎn)足研發(fā)，生產(chǎn)等各種環(huán)境下的應(yīng)用。

二、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀主要特性

（1）頻率范圍：100 kHz~50 GHz

（2）動(dòng)態(tài)范圍：135 dB

（3）中頻帶寬范圍：1 Hz~10 MHz

（4）輸出功率設(shè)置范圍：-60 dBm ~ +20 dBm

（5）支持4端口S參數(shù)測(cè)量、差分（平衡）測(cè)量、時(shí)域分析、標(biāo)量混頻器測(cè)量等等

（6）可選配電子校準(zhǔn)件、開(kāi)關(guān)矩陣、機(jī)械開(kāi)關(guān)

三、產(chǎn)品特征

（1）毫米波測(cè)量-頻率擴(kuò)展到110 GHz

     SNA6000A最高測(cè)量頻率達(dá)50GHz，并可擴(kuò)展至110GHz。這一頻率的突破，滿(mǎn)足當(dāng)今高速通信和高頻測(cè)試需求。無(wú)論在5G/6G頻段的移動(dòng)通信，還是77/79GHz汽車(chē)?yán)走_(dá)等應(yīng)用中，毫米波頻段表征放大器、濾波器、混頻器和天線(xiàn)等有源和無(wú)源器件的特性至關(guān)重要。SNA6000A兼具射頻性能、完備的硬件架構(gòu)、豐富的軟件功能以及附件組合，全面覆蓋從校準(zhǔn)到測(cè)量的每一個(gè)環(huán)節(jié)，是研發(fā)驗(yàn)證與生產(chǎn)測(cè)試的理想解決方案。

（2）開(kāi)關(guān)矩陣-輕松實(shí)現(xiàn)多端口器件測(cè)試需求

      開(kāi)關(guān)矩陣能讓多端口器件測(cè)試的連線(xiàn)變得簡(jiǎn)單，并且也是自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的重要組成部分，起著控制信號(hào)流向的作用。SSM5000A系列射頻開(kāi)關(guān)矩陣，頻率范圍9kHz~26.5GHz，適配鼎陽(yáng)科技所有矢網(wǎng)產(chǎn)品，單臺(tái)可將輸出端口擴(kuò)展至24個(gè)，還可繼續(xù)疊加。與傳統(tǒng)測(cè)量方式相比，使用射頻開(kāi)關(guān)矩陣測(cè)量速度大大提升，可以幫助工程師輕松實(shí)現(xiàn)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和多端口被測(cè)物的連接與測(cè)試，也適配了生產(chǎn)線(xiàn)使用場(chǎng)景。

（3）時(shí)域分析和信號(hào)完整性測(cè)量

      SNA6000A 支持高級(jí)時(shí)域分析功能（TDR），可精確測(cè)量傳輸線(xiàn)的特征阻抗，并幫助定位斷點(diǎn)或短路點(diǎn)的具體位置。此外，SNA6000A的 TDR 功能還可通過(guò)內(nèi)部仿真生成眼圖，無(wú)需額外的碼型發(fā)生器，即可高效完成波形一致性測(cè)試。利用眼圖功能可以更直觀地分析信號(hào)傳輸中的噪聲、抖動(dòng)、碼間串?dāng)_等問(wèn)題。TDR 功能可廣泛應(yīng)用于 PCB 板阻抗測(cè)試，材料性能測(cè)試，傳輸線(xiàn)質(zhì)量測(cè)試中。

（4）材料介電特性的精確表征和測(cè)量

      材料測(cè)量的全套解決方案，包括SNA系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、MT材料測(cè)量分析軟件、KWR42A波導(dǎo)校準(zhǔn)件和夾具，可以幫助用戶(hù)高效、精確的表征和測(cè)量材料的介電特性。SNA系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀兼具出色的測(cè)量完整性和經(jīng)濟(jì)適用性，通過(guò)測(cè)量向?qū)е敢脩?hù)完成材料測(cè)量過(guò)程，測(cè)量結(jié)果可用多種格式繪制，幫助用戶(hù)更好地分析測(cè)量結(jié)果，非常適合實(shí)驗(yàn)室、研究機(jī)構(gòu)和教育教學(xué)環(huán)境。

（5）芯片測(cè)試-一次連接即可實(shí)現(xiàn)多種測(cè)量

      SNA6000A憑借高精度和寬頻率范圍，進(jìn)行高效精準(zhǔn)的毫米波芯片測(cè)試，加速毫米波半導(dǎo)體制造，助力5G通信和先進(jìn)傳感等領(lǐng)域發(fā)展。

（6）OTA測(cè)試的理想設(shè)備

      SNA6000A以其完備的軟硬件功能，成為近場(chǎng)、遠(yuǎn)場(chǎng)、緊縮場(chǎng)天線(xiàn)測(cè)試系統(tǒng)的核心設(shè)備，模擬真實(shí)無(wú)線(xiàn)環(huán)境，助力天線(xiàn)和無(wú)線(xiàn)通信設(shè)備的測(cè)試。

四、規(guī)格參數(shù)